ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀

關(guān)鍵詞：高低溫，介電溫譜，-190℃-600℃，薄膜，塊體

ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀是中科院聲學(xué)所研發(fā)的最新一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。測(cè)溫范圍從-190℃-600℃，滿足目條件下測(cè)試的要求，同時(shí)高低溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)，高溫測(cè)試夾具與WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A測(cè)量設(shè)備無(wú)縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外，還可以為用戶提供的其他LCR品牌或型號(hào)完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過(guò)測(cè)量C和D值，自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣，是實(shí)驗(yàn)室開(kāi)發(fā)和研究新材料的重要測(cè)量手段。在生產(chǎn)質(zhì)量控制和優(yōu)化上也是強(qiáng)有力的工具。

一、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1）高溫介電溫譜儀-高溫介電測(cè)量系統(tǒng)；

2）測(cè)量精度高，控溫，測(cè)量頻率寬，抗交流干擾；

3）介電軟件功能強(qiáng)大，擁有完善的測(cè)量系統(tǒng)；

4）直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值曲線；

5）直接得出復(fù)阻抗實(shí)部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖；

6）直接得出機(jī)械品質(zhì)因數(shù)Qm；

7）集方案、測(cè)量、分析、數(shù)字化顯示于一體集成化設(shè)計(jì)；

8）自主研發(fā)設(shè)計(jì)電極系統(tǒng)，重復(fù)性更好，穩(wěn)定性更高；

9）高溫、寬頻下測(cè)量材料的介電性能；

10）一次只能測(cè)量一個(gè)樣品，測(cè)量準(zhǔn)確度更高；

11）高溫介電測(cè)量系統(tǒng)與安捷倫、穩(wěn)科阻抗產(chǎn)品wan美兼容；

12）多種溫度選型，軟件免費(fèi)升級(jí)。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍   -190℃-600℃

控溫精度   ±1℃

頻率范圍：20Hz-50MHz

測(cè)量精度：0.05%

控溫方式   連續(xù)升溫和分段升溫

測(cè)量精度   0.1℃

升溫斜率   0-10℃min（典型值3℃min）

控溫方式   PID精確控溫

顯示控制   電腦直接顯示

數(shù)據(jù)接口   USB接口

冷卻方式   液氮

降溫斜率   0-1℃/mim（典型值3℃/min）

測(cè)量精度：0.05%

測(cè)量原理：平行板電容器原理

供電:220V±10%,50Hz

工作環(huán)境:0℃-55℃

樣品尺寸:φ≤15min，d=3mm

測(cè)量方式:2線-4線測(cè)量

電極材料:鉑金

儀器尺寸:750×550×560

  溫度：-190℃-600℃